測定顆粒大小的常用方法的比較
來(lái)源:
作者:
1.篩分 原理:依賴(lài)篩孔大小的機械分離作用。優(yōu)點(diǎn)是簡(jiǎn)單直觀(guān)。動(dòng)態(tài)范圍較小,常用于大于40μm的顆粒測定。 缺點(diǎn):速度慢,一次只能測量一個(gè)篩余值,不足以反映粒度分布;微小篩孔制作困難;誤差大,通常達到10%-20%;小顆粒由于團聚作用通過(guò)篩孔困難;有人為誤差,導致可信度下降。
2.沉降 原理:斯托克斯定律。缺點(diǎn):動(dòng)態(tài)范圍窄;小粒子沉降速度很慢,對非球型粒子誤差大;由于密度一致性差,不適用于混合物料;重力沉降儀適用于10微米以上的粉體,如果顆粒很細則需要離心沉降。
3.庫爾特電阻法 原理:顆粒通過(guò)小孔時(shí)產(chǎn)生的電阻脈沖計數。優(yōu)點(diǎn):可以測定顆??倲?,等效概念明確;操作簡(jiǎn)便。缺點(diǎn):動(dòng)態(tài)范圍小,1:20左右;對介質(zhì)的電性能有嚴格要求;容易出現堵塞小孔現象。
4.顯微鏡法 原理:光學(xué)成像。優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單直觀(guān);可作形貌分析。缺點(diǎn):動(dòng)態(tài)范圍窄,1:20;測量時(shí)間長(cháng),約20分鐘;樣品制備操作較復雜;采樣的代表性差;對超細顆粒分散有一定的難度,受衍射極限的限制,無(wú)法檢測超細顆粒。
5.電鏡 原理:電子成像。優(yōu)點(diǎn):直觀(guān);分辨率高。缺點(diǎn):取樣量少,沒(méi)有代表性,樣品制備操作復雜;儀器價(jià)格昂貴。
6.激光粒度儀 原理:激光衍射/散射。優(yōu)點(diǎn):測量速度快,約1分鐘;動(dòng)態(tài)范圍大,約1:1000以上;重復性好;準確度高,分辨率高;操作簡(jiǎn)便;可對動(dòng)態(tài)顆粒群進(jìn)行跟蹤測試分析,是目前最先進(jìn)的粒度儀,在很多場(chǎng)合可替代其他測量方法,是粒度儀發(fā)展的方向。