濟南微納顆粒儀器受邀參加中國顆粒學(xué)會(huì )第十屆學(xué)術(shù)年會(huì )
來(lái)源:
作者:
濟南微納
2018年8月9日,中國顆粒學(xué)會(huì )第十屆學(xué)術(shù)年會(huì )暨海峽兩岸顆粒技術(shù)研討會(huì )在歷史悠久的沈陽(yáng)市舉行,本屆會(huì )議由中國顆粒學(xué)會(huì )、中國科學(xué)院金屬所、 清華大學(xué)、大同大學(xué)(臺北)共同主辦,作為顆粒測試領(lǐng)域及國內激光粒度儀研發(fā)的先驅品牌,濟南微納顆粒儀器受邀參會(huì )。
8月10日下午,在顆粒的測試與表征分會(huì )場(chǎng),微納顆粒創(chuàng )始人任中京教授現場(chǎng)講解《激光粒度分析儀多次散射補償技術(shù)研究》的研究報告。激光粒度分析儀多次散射補償技術(shù)的研究的意義就是提高激光粒度儀測試的精度,消除激光多次散射對顆粒測試結果帶來(lái)的影響,闡述了微納顆粒研發(fā)的補償技術(shù)可有效改善大顆粒寬分布顆粒群的粒度分布的測試精度,并且該技術(shù)已經(jīng)成熟運用到微納研發(fā)的Winner系列激光粒度儀中。
作為國內激光粒度儀行業(yè)研發(fā)的先驅者,微納顆粒一直在顆粒測試技術(shù)領(lǐng)域潛心鉆研,把創(chuàng )新技術(shù)運用到儀器,并成熟落地到項目。